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電容器老化測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)和方法

發(fā)表時(shí)間:2023-05-23 11:05:24

電容器是一種用于儲(chǔ)存電荷的器件，由兩個(gè)相互靠近的導(dǎo)體極板之間夾著一層不導(dǎo)電的絕緣介質(zhì)構(gòu)成。當(dāng)在電容器的極板上施加電壓時(shí)，電容器會(huì)儲(chǔ)存電荷。電容器的電容量表示為一個(gè)極板上的電荷量與兩個(gè)極板之間電壓的比值，單位為法拉（F）。在電路圖中，電容器通常用字母C表示。電容器在電路中的調(diào)諧、旁路、耦合和濾波等方面起著重要作用。老化測(cè)試是用于篩選電容器可靠性水平和質(zhì)量的方法之一。

以下是有關(guān)電容器老化測(cè)試的相關(guān)信息：

目的：

電容器老化測(cè)試的目的是評(píng)估電容器隨著時(shí)間推移而產(chǎn)生的性能變化，并考察其使用的可靠性。

標(biāo)準(zhǔn)：

1. GB/T 2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)，第2部分》；

2. IEC 60068-2-2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境測(cè)試，第2-2部分：試驗(yàn)，試驗(yàn)B：干熱》；

3. MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮和實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)》。

方法：

1. 在常溫下施加額定電壓，持續(xù)12分鐘，并監(jiān)測(cè)漏電流。漏電流的限制值根據(jù)電容器的額定電壓（UR）來(lái)確定：當(dāng)UR≤100V時(shí)，漏電流不超過(guò)0.01CV或3μA（取較大值）；當(dāng)UR＞100V時(shí)，漏電流不超過(guò)0.1CV+10μA。

2. 在高溫（85℃）下施加額定電壓，連續(xù)測(cè)試24小時(shí)，并記錄漏電流的波動(dòng)情況。

3. 每5分鐘記錄一次數(shù)據(jù)，要求老化過(guò)程中漏電流無(wú)明顯波動(dòng)，并且保持在初始極限值的10倍以下。

4. 恢復(fù)至常溫，保持12分鐘。

5. 監(jiān)測(cè)漏電流、損耗角和絕緣電阻，確保它們符合常溫下的標(biāo)準(zhǔn)要求。

以上是電容器老化測(cè)試的一般標(biāo)準(zhǔn)和方法。具體的測(cè)試過(guò)程和要求可能會(huì)因不同的應(yīng)用領(lǐng)域、產(chǎn)品規(guī)格和標(biāo)準(zhǔn)而有所不同。在進(jìn)行具體的電容器老化測(cè)試時(shí)，應(yīng)參考適用的標(biāo)準(zhǔn)和相關(guān)文獻(xiàn)，并遵循正確的實(shí)驗(yàn)操作方法。

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